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1.Imagem marcado/desmarcadoVANZELLA, C.; SOARES, A. A. B.; MARTIN, M. S.; LERIN, S.; STEFFENS, C. A. Maturação e qualidade pós-colheita de maças 'fuji suprema' sobre porta exertos da serie Geneva®. In: ENCONTRO NACIONAL SOBRE FRUTICULTURA DE CLIMA TEMPERADO, 19.; SEMINÁRIO CATARINENSE DE OLERICULTURA, 3., 2026, Fraiburgo, SC. Anais [...]. São Paulo, SP: DOPPIO MARKETING, 2026. p. 88-88.

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2.Imagem marcado/desmarcadoSOARES, A. A. B.; MARTIN, M. S.; LERIN, S.; VANZELLA, C.; STEFFENS, C. A. Maturação e qualidade pós-colheita de maçãs ‘maxi gala’ sobre porta-enxertos da série Geneva®. In: ENCONTRO NACIONAL SOBRE FRUTICULTURA DE CLIMA TEMPERADO, 19.; SEMINÁRIO CATARINENSE DE OLERICULTURA, 3., ., 2026, Fraiburgo, SC. Anais [...]. São Paulo, SP: DOPPIO MARKETING, 2026. p. 89-89.

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3.Imagem marcado/desmarcadoCARBONARI, L. T. S.; CERUTTI, P. H.; JOAQUIM JÚNIOR, C. Z.; VANZELLA, C.; GUIDOLIN, A. F.; KAVALCO, S. A. F.; COIMBRA, J. L. M. Contribution of Bacterial Blight, Anthracnose, and Angular Leaf Spot Diseases To the Grain Yield of Common Bean Genotypes. International Journal of Plant Production, New York, v. 19, p. 1-11, 2025.

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1.Imagem marcado/desmarcadoVANZELLA, C.; SOARES, A. A. B.; MARTIN, M. S.; LERIN, S.; STEFFENS, C. A. Maturação e qualidade pós-colheita de maças 'fuji suprema' sobre porta exertos da serie Geneva®. In: ENCONTRO NACIONAL SOBRE FRUTICULTURA DE CLIMA TEMPERADO, 19.; SEMINÁRIO CATARINENSE DE OLERICULTURA, 3., 2026, Fraiburgo, SC. Anais [...]. São Paulo, SP: DOPPIO MARKETING, 2026. p. 88-88.
Tipo: Resumo em Anais de Congresso
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2.Imagem marcado/desmarcadoSOARES, A. A. B.; MARTIN, M. S.; LERIN, S.; VANZELLA, C.; STEFFENS, C. A. Maturação e qualidade pós-colheita de maçãs ‘maxi gala’ sobre porta-enxertos da série Geneva®. In: ENCONTRO NACIONAL SOBRE FRUTICULTURA DE CLIMA TEMPERADO, 19.; SEMINÁRIO CATARINENSE DE OLERICULTURA, 3., ., 2026, Fraiburgo, SC. Anais [...]. São Paulo, SP: DOPPIO MARKETING, 2026. p. 89-89.
Tipo: Resumo em Anais de Congresso
Biblioteca(s): Epagri-Sede.
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3.Imagem marcado/desmarcadoCARBONARI, L. T. S.; CERUTTI, P. H.; JOAQUIM JÚNIOR, C. Z.; VANZELLA, C.; GUIDOLIN, A. F.; KAVALCO, S. A. F.; COIMBRA, J. L. M. Contribution of Bacterial Blight, Anthracnose, and Angular Leaf Spot Diseases To the Grain Yield of Common Bean Genotypes. International Journal of Plant Production, New York, v. 19, p. 1-11, 2025.
Tipo: Artigo em Periódico Indexado
Biblioteca(s): Epagri-Sede.
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