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1.Imagem marcado/desmarcadoCHANG, J.; CLAY, D. E.; DALSTED, K.; CLAY, S.; O' NEILL, M. Corn (zea mays L.) yield prediction using multispectral and multidate reflectance. Agronomy Journal, Madison, v. 95, n. 6, p. 1447-1453, nov./dic. 2004.

Biblioteca(s): Epagri-Sede.

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