Data/hora: 15/06/2024 08:05:51

Biblioteca(s): | Epagri-Sede.
Data corrente: | 19/06/2006
Data da última atualização: | 19/06/2006
Autoria: | XAVIER, A. C.; RUDORFF, B. F. T.; MOREIRA, M. A.; ALVARENGA, B. S.; FREITAS, J. G. de; SALOMON, M. V.
Título: | Hyperspectral field reflectance measurements to estimate wheat grain yield and plant height.
Ano de publicação: | 2006
Fonte/Imprenta: | Scientia Agricola, Piracicaba, v. 6, n. 2 , p. 130-138, mar./abr. 20006.
Idioma: | Inglês
Palavras-Chave: | Agricultura; Altura da planta; Indice de vegetacao; Produtividade de graos; Sensoriamento remoto; Trigo.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Epagri-Sede (Epagri-Sede)
Exemplares: | Epagri-Sede - (47651-1) - ADP - AP - -- -  -  - 0000.22855 - DIS